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Advanced Test Methods for SRAMs

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Langue AnglaisAnglais
Livre Livre relié
Livre Advanced Test Methods for SRAMs Patrick Girard
Code Libristo: 01420517
Éditeurs Springer-Verlag New York Inc., octobre 2009
Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing... Description détaillée
? points 277 b
114.22 €
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Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as "dynamic faults", are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book.

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À propos du livre

Nom complet Advanced Test Methods for SRAMs
Auteur Patrick Girard, Alberto Bosio, Luigi Dilillo
Langue Anglais
Reliure Livre - Livre relié
Date de parution 2009
Nombre de pages 171
EAN 9781441909374
ISBN 1441909370
Code Libristo 01420517
Éditeurs Springer-Verlag New York Inc.
Poids 980
Dimensions 155 x 235 x 23

Catégories

Technologie, ingénierie et agriculture, procédés industriels > Ingénierie électronique et technologie des communications > Génie électronique > Electronique : circuits et composants
Technologie, ingénierie et agriculture, procédés industriels > Technologie : généralités > Ingénierie : généralités
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