Niet blij met je aankoop? Geeft niet! Je kunt artikelen tot 30 dagen retourneren
Met een cadeaubon zit je altijd goed. De ontvanger kan de cadeaubon voor alles uit ons assortiment inwisselen.
Tot 30 dagen retourrecht
Atomic Force Microscopy (AFM) measures the forces between a tip and the substrate and maps the substrate surface topography and properties based on the measurement of tip-substrate interactions. This volume contains the papers on AFM techniques.
Hoi! Ik ben Libroamiko, je boekadviseur.
Hoe kan ik je helpen?