Gratis bezorging voor bestellingen boven de 69,99 euro.

Status van bestelling controleren

Word lid van een gemeenschap van boekenliefhebbers van over de hele wereld en krijg een heleboel voordelen. Gratis account aanmaken

Gratis bezorging met Zásilkovna boven 69.99 €

DPD koerier 6.49 € Bpost punt 8.49 € Bpost 7.99 € DPD-punt 3.99 € GLS koerier 5.49 €

Contact

Hoe winkelen bij ons werkt

Help

Mijn account

▸ Leeg :-(

Gratis bezorging voor bestellingen boven de 69,99 euro.

Ion Beam Surface Layer Analysis

Name: Ion Beam Surface Layer Analysis
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 02253688
Price: 51.46 EUR
Availability: InStock
Author: Otto Meyer
ISBN: 9781461588788

Volume 1

Otto Meyer

Taal

Engels

Boek Paperback

Libristo-code: 02253688

Uitgeverij Springer-Verlag New York Inc., mei 2013

The II. International Conference on Ion Beam Surface Layer Analysis was held on September 15-19, 197... Volledige beschrijving

Libristo-code: 02253688

125 b

51.46 €

In extern magazijn Wordt binnen 5-8 dagen verzonden

Tot 30 dagen retourrecht

Klanten kochten ook

ANNAL 09 ABC BREV SUJ COR HIST Guillaume Gicquel

Paperback

7.75 €

Big Joe Josef Šmejkal

Gebonden

10.77 €

Green Day ReAction Action Figure Dookie Dog 9 cm Spel/speelgoed

Speelgoed

19.63 €

Košice na každý deň - 366 tipov na použitie mesta Milan Kolcun

Paperback

22.05 €

Český jazyk 8 Krausová Zdeňka

Paperback

4.12 €

ZELLZYKLUS S. Prakasam

Paperback

23.96 €

Couture zéro déchet pour bébé, je me lance ! - 27 objets réutilisables pour un mode de vie durable Laurane RK

Paperback

29.60 €

Hon na knížete Drákulu Kerri Maniscalco

Gebonden

21.34 €

P?JAROS MOJADOS EN UN CABLE DE LUZ OLVERA

Paperback

20.84 €

Lustiges Taschenbuch Abenteuer 07 Disney

Paperback

12.88 €

CONEX?ES DO PILAR DO IMPLANTE Chandan Kusum

Paperback

48.74 €

SIETE AGUJAS DE COSER LUCIA CHACON

Boek

12.88 €

Moeglichkeiten und strategische Wettbewerbsvorteile durch Direktmarketing im Internet Barbara Leitner

Paperback

42.59 €

Bílí ptáci Elda Grinová

Blad

5.73 €

Spätkoloniale Moderne Regina Göckede

Gebonden

82.28 €

Revizor Nikolai Wassiljewitsch Gogol

Paperback

6.34 €

Rechtsprobleme der Swapsatzpolitik der Bundesbank. Rainer Grimberg

Paperback

77.95 €

Aus der Zeit fallen David Grossman

Gebonden

18.52 €

Forsthaus im Spessart Trudi Graf

Paperback

13.49 €

Schule und Motivation Alain Weins

Paperback

10.67 €

Deutsche Sagen Jacob Grimm

Paperback

35.44 €

Weltuntergang Vincenz Chiavacci

Paperback

25.47 €

Fauna Boica - Durchgedachte Geschichte der in Bayern einheimischen und zahmen Tiere. Bd.1/2 Franz von Pavla Schrank

Paperback

41.71 €

MUSEE AERONAUTIQUE AVANT MONTGOLFIER JULES DUHEM Boek

binding.

43.10 €

The II. International Conference on Ion Beam Surface Layer Analysis was held on September 15-19, 1975 at the Nuclear Research Center, Karlsruhe, Germany. The date fell between two related con ferences: "Application of Ion-Beams to Materials" at Warwick, Eng land and "Atomic Collisions in Solids" at Amsterdam, the Nether lands. The first conference on Ion Beam Surface Layer Analysis was held at Yorktown Heights, New York, 1973. The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications. The increasing interest in this field was docu mented by 7 invited papers and 85 contributions which were presen ted at the meeting in Karlsruhe to about 150 participants from 21 countries. The oral presentations were followed by parallel ses sions on "Fundamental Aspects", "Analytical Problems" and "Appli cations" encouraging detailed discussions on the topics of most current interest. Summaries of these sessions were presented by the discussion leaders to the whole conference. All invited and contributed papers are included in these proceedings; summaries of the discussion sessions will appear in a separate booklet and are availble from the editors. The application of ion beams to material analysis is now well established.

Actrice & Polyglot

EWA KASP voor

Video afspelen

Libristo heeft de grootste selectie boeken in vreemde talen. Daarom koop ik mijn boeken hier.

Informatie over het boek

Volledige naam Ion Beam Surface Layer Analysis

Auteur Otto Meyer

Taal

Engels

Bindwijze Boek - Paperback

Datum van uitgifte 2013

Aantal pagina's 494

EAN 9781461588788

ISBN 1461588782

Libristo-code 02253688

Uitgeverij Springer-Verlag New York Inc.

Gewicht 986

Afmetingen 178 x 254 x 29

Categorieën

Wiskunde en wetenschap > Fysica > Atoomfysica en moleculaire fysica

Wiskunde en wetenschap > Fysica > Kernfysica

Geef dit boek vandaag nog cadeau

Dat gaat heel eenvoudig

1 Voeg het boek toe aan je winkelwagentje en selecteer Als cadeau bezorgen 2 Je krijgt van ons per omgaand een voucher 3 Het boek wordt bezorgd op het adres van de ontvanger