LIBRISTO
LIBROAMANTO
verplicht
Word lid van een gemeenschap van boekenliefhebbers van over de hele wereld en krijg een heleboel voordelen. Gratis account aanmaken
0
Gratis bezorging met Zásilkovna boven 69.99 €
DPD koerier 5.99 Bpost punt 7.99 Bpost 7.49 DPD-punt 3.49 GLS koerier 4.99

Gratis bezorging voor bestellingen boven de 69,99 euro.

Materials Reliability in Microelectronics V: Volume 391

Taal EngelsEngels
Boek Gebonden (harde band)
Boek Materials Reliability in Microelectronics V: Volume 391 William F. Filter
Libristo-code: 02060054
Uitgeverij Materials Research Society, oktober 1995
This long-standing proceedings series is highly regarded as a premier forum for the discussion of mi... Volledige beschrijving
? points 64 b Wordt verwacht Wordt verwacht
26.52
Verwachte herdruk Datum onbekend Datum onbekend

Tot 30 dagen retourrecht


Klanten kochten ook


Kochen mit... Bananen Götz Gußmann / Boek Gebonden (harde band)
common.buy 8.36
Histoires autour de sages fous et de fous sages Lagny Delatour / Boek Gebonden (paperback)
common.buy 20.57
Finanzmarktintegration durch Insolvenzrechtsharmonisierung Andy Ruzik / Boek Gebonden (harde band)
common.buy 189.31
Unsere ersten Ziegen Anne-Kathrin Gomringer / Boek Gebonden (paperback)
common.buy 15.73

This long-standing proceedings series is highly regarded as a premier forum for the discussion of microelectronics reliability issues. In this fifth book, emphasis is on the fundamental understanding of failure phenomena in thin-film materials. Special attention is given to electromigration and mechanical stress effects. The reliability of thin dielectrics and hot carrier degradation of transistors are also featured. Topics include: modeling and simulation of failure mechanisms; reliability issues for submicron IC technologies and packaging; stresses in thin films/lines; gate oxides; barrier layers; electromigration mechanisms; reliability issues for Cu metallizations; electromigration and microstructure; electromigration and stress voiding in circuit interconnects; and resistance measurements of electromigration damage.

Actrice & Polyglot
EWA KASP voor
Video afspelen
Ewa Kasp
Libristo heeft de grootste selectie boeken in vreemde talen. Daarom koop ik mijn boeken hier.

Informatie over het boek

Volledige naam Materials Reliability in Microelectronics V: Volume 391
Taal Engels
Bindwijze Boek - Gebonden (harde band)
Datum van uitgifte 1995
Aantal pagina's 523
EAN 9781558992948
ISBN 1558992944
Libristo-code 02060054
Gewicht 886
Afmetingen 157 x 234 x 33
Geef dit boek vandaag nog cadeau
Dat gaat heel eenvoudig
1 Voeg het boek toe aan je winkelwagentje en selecteer Als cadeau bezorgen 2 Je krijgt van ons per omgaand een voucher 3 Het boek wordt bezorgd op het adres van de ontvanger

Dit vind je misschien ook interessant


Right To Be Well Born W. E. D. Stokes / Boek Gebonden (paperback)
common.buy 19.36
A Cultural History of Sport in the Age of Enlightenment Rebekka von Mallinckrodt / Boek Gebonden (paperback)
common.buy 41.45
Perioperative Quality Improvement - E-Book Carol J. Peden / E-book Adobe ePub DRM
common.buy 72.92
Food Truck Business Guide for Beginners DURRANT / Boek Gebonden (paperback)
common.buy 15.42
The Art of Bird Identification Pete Dunne / Boek Gebonden (paperback)
common.buy 15.73
It Hurts Subhasis Das / Boek Gebonden (paperback)
common.buy 23.09
TOP
Oh, The Places You'll Go! Dr. Seuss / Boek Gebonden (harde band)
common.buy 15.02
Environmental Technologies and Trends Ravi K. Jain / Boek Gebonden (paperback)
common.buy 51.53
Varieties of Orthographic Knowledge V.W. Berninger / Boek Gebonden (paperback)
common.buy 153.91
Convergence Clubs and Spatial Externalities Stilianos Alexiadis / Boek Gebonden (harde band)
common.buy 102.67

Inloggen

Log in op je account. Heb je nog geen Libristo-account? Maak nu een account aan!

 
verplicht
verplicht

Heb je geen account? Profiteer van de voordelen van een Libristo-account!

Met een Libristo-account heb je alles onder controle.

Een Libristo-account aanmaken
Boekadviseur Libroamiko
Hoi, ik ben Libroamiko, kan ik helpen?